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SGC-10薄膜测厚仪工作原理及产品特点

日期: 2020-08-07
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薄膜测厚仪顾名思义就是测量薄膜厚度的,主要用于滤光片、液晶屏上薄膜以及塑料薄膜、纸张、隔膜、薄片等的厚度测量。主要有两类测量方式,分别为接触式测量和非接触式测量,接触式测量有点和面两种,非接触有红外线、超声波、射线等。

SGC-10薄膜测厚仪工作原理及产品特点

天津港东科技SGC-10薄膜测厚仪是与美国new-span公司合作研制的,用于薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量,其采用new-span公司独特的薄膜测量技术,属于非接触白光类。

一、SGC-10薄膜测厚仪工作原理:

其工作原理是基于白光干涉来测定薄膜的厚度和光学常数而来(折射率n,消光系数k)。主要是通过分析薄膜表面的反射光线和薄膜与基底界面的反射光线相干形成的反射谱,用软件来拟合运算,得到单层或多层薄膜各层的厚度,折射率,消光系数等。

二、SGC-10薄膜测厚仪功能特点:

1、操作界面清晰明了,鼠标点击即可完成测量操作;

2、存取方便,拥有强大的数据处理功能;

3、支持4层放射率数据测量,一次获得4层薄膜的厚度和光学常数数据;

4、常规光学数据全面,也可自行补充。

SGC-10薄膜测厚仪具有很强的开放性设计,光纤探头、光纤适配器、显微镜、支架等都可单独取出,显微镜需要自配,这样就不会因为设备某一个部位不小心造成损伤而难以修理,只要有对应的部件,即可方便快速的维护产品。

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